Particle Measuring Systems lance le premier compteur de particules de 20 nm certifié pour la surveillance des solvants en zones à risque
Le compteur de particules Chem 20 SM permet la surveillance en ligne des solvants critiques dans les zones à risque des sites de fabrication de semi-conducteurs.
NIWOT, Colo. – Particle Measuring Systems (PMS), leader mondial des solutions de surveillance de la contamination, annonce le lancement du Chem 20™ SM, un compteur de particules de 20 nm pour solvants conçu pour une utilisation en zones à risque.
Destiné à la surveillance de solvants tels que l’IPA et le PGMEA, le Chem 20 SM assure une surveillance particulaire fiable en ligne, avec des certifications pour les zones à risque, sans nécessiter les enceintes de confinement fabriquées par les clients et couramment utilisées aujourd’hui.
Les fabricants de semi-conducteurs sont depuis longtemps confrontés aux difficultés de surveillance des particules dans les environnements à risque où sont utilisés des solvants. Les approches traditionnelles nécessitent souvent des enceintes coûteuses, fabriquées sur mesure et purgées à l’azote, autour de compteurs de particules standard, ce qui accroît la complexité, les coûts et les besoins de maintenance.
Le Chem 20 SM est une solution autonome conçue spécifiquement pour une installation en zones à risque, qui simplifie le déploiement tout en assurant la maîtrise de la contamination aux étapes critiques.
« Le Chem 20 SM a été développé pour répondre à un défi de longue date des fabricants de semi-conducteurs », déclare Badr Astiphan, vice-président de Particle Measuring Systems. « En associant la détection des particules de 20 nm à une certification pour les zones à risque et à une conception compacte facilitant l’installation, nous permettons à nos clients de surveiller les solvants critiques plus efficacement et en toute confiance. »
Les principaux avantages du Chem 20 SM comprennent :
- Une conception adaptée à la surveillance des solvants en zones à risque, avec plusieurs fonctions de sécurité intégrées.
- Un format compact pour une installation en ligne, nécessitant moins d’espace.
- Des coûts de mise en œuvre réduits par rapport aux solutions utilisant une enceinte de confinement secondaire.
- Une surveillance continue, 24 h/24 et 7 j/7, avec accès aux données en local et à distance.
- Une conception optimisée pour les applications utilisant des solvants de haute pureté, notamment l’IPA et les solvants de lithographie.
Le Chem 20 SM répondra aux exigences internationales applicables aux zones à risque, notamment IECEx, ATEX et NFPA 70 NEC Class I Division 2.
Grâce au Chem 20 SM, les fabricants de semi-conducteurs et les fournisseurs de produits chimiques peuvent surveiller la contamination au plus près du procédé, identifier plus tôt les événements particulaires susceptibles de réduire le rendement et simplifier l’installation en zones à risque, tout en préservant les performances et la sécurité.