À 20 nm, la contamination n’impacte pas uniquement les performances — elle détermine le rendement.
À cette échelle, les particules sont souvent indétectables avec les méthodes de surveillance traditionnelles, mais elles peuvent dégrader silencieusement l’intégrité des procédés bien avant que des défauts ne deviennent visibles.
Pour opérer en toute confiance, il ne suffit pas d’être conforme.
Vous avez besoin d’une visibilité complète — et d’un contrôle total — sur l’ensemble de votre procédé.
Aux nœuds technologiques avancés, le risque de contamination n’est plus isolé : il concerne chaque étape de votre procédé :
À 20 nm, même des traces de particules peuvent perturber les performances des dispositifs et compromettre le rendement.
Les compteurs de particules conventionnels n’offrent pas la sensibilité requise pour les procédés avancés de fabrication de semi-conducteurs.
Grâce à une sensibilité de détection des particules jusqu’à 20 nm, les solutions PMS vous permettent de :
Ces capacités favorisent une maîtrise proactive de la contamination, plutôt qu’une résolution réactive des problèmes.
Optimisées pour :
Développées pour accompagner :